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BiAgX®

  • 高铅锡膏的直接替代品
  • 不含铅和锑
  • 回流后的固相线> 260°C
  • 根据IPC/JEDEC J-STD-020D标准,MSL等级1检验合格

简介

在过去的十年里,功率半导体市场发生了很大变化。其中对这个市场影响最大的变化之一是使用无铅芯片粘接材料的趋势。

铟泰公司针对高温无铅焊接研制了一种被称为BiAgX®的焊锡膏技术,它形成的焊接点在温度高于260°C时重熔。

欢迎咨询任何关于BiAgX®的问题。

产品特点

  • 可直接取代高铅锡膏,所需的工艺优化工作极少,且无额外的新增投资
  • 不含铅和锑,符合适用标准
  • 与标准的芯片黏着焊锡膏类似,BiAgX®可滴涂及可印刷的产品
  • 回流、焊接和凝固特性与其他焊锡膏相似
  • 助焊剂可以用标准的化学清洗材料和工艺清除
  • 工艺从使用标准的高铅焊锡膏转为使用BiAgX®时,所需的调整极少
  • 适合便携式电子产品、汽车和工业应用中的QFN封装中的较小芯片和低压元件
  • 不含昂贵的特殊材料,如纳米颗粒或黄金。
  • 在回流工艺中无需在芯片上施加压力
  • 超过150°C的高温环境设计,高温下其机械结构和其他性能不会退化
  • 正发展成基于同一个技术平台的产品系列
  • 已获得美国、日本和中国专利认证,欧盟专利审批中。

铟泰公司还提供其他芯片黏着焊接材料。铟泰现为汽车电子委员会(AEC)唯一的材料供应商。

BiAgX®的回流、可焊性及空洞

回流温度曲线的最佳实用指南 

参数 范围 单位
可线性升温到140°C   1.2 – 1.8 °C/s
线性升温 140 – 262°C   2.4 – 3.0 °C/s
温度高于262°C的时间   25 – 35 秒 (s)
峰值温度   320 – 330 °C
初始冷却速度   8 – 10 °C/s

裸芯片(2毫米x 2毫米)在DBC基片上的X射线图像

资料来源:《Lead-free Solder Attach for 200°C Applications》 –  Johnson et al., iMAPS HiTen Conference,英国牛津,2013年7月

BiAgX® 焊锡膏回流和焊接点的DSC数据

BiAgX®焊锡膏

最初的回流(R0)

BiAgX®焊接点

后续回流 (R1,2,3…)

模拟:芯片黏着(元件制造)

模拟:成品元件的SMT回流

资料来源:《Lead-free Solder Attach for 200°C Applications》 –  Johnson et al., iMAPS HiTen Conference,英国牛津,2013年7月

高温对BiAgX®的影响

高温存放对BiAgX®的影响t(0)

剖面图:试验前

在200°C高温下存放3000小时对BiAgX®的影响

剖面图:在200°C下存放3000小时

资料来源:《Reliability Assessment of BiAgX® Die-Attachment for SiC Power Modules》,Tanimoto S. et al,《日本应用物理学报》,2013年4月

时间和温度对BiAgX®焊接点强度的影响(与高铅合金对比)

可靠性测试

  • 峰值温度260°C下再进行三次回流
  • 2000次热循环试验(-55°C 至125°C)
  • 2000次热冲击试验(-55°C至150°C)

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